高靈敏度,不需要靶鏡,非接觸式測量
可測的微、小、輕、薄、黑、透、易變形、熱表面
對被測物表面反射率無嚴格要求,可測“黑”表面
采用激光自干涉原理,測量結果可溯源
無外部光學器件,操作靈活方便
可非接觸測量物體的位移、振動,以及材料膨脹系數等。
傳統的激光干涉儀通常需要在被測目標上設置靶鏡,以反射測量光線獲得高精度的測量結果。鐳測科技推出的LY1000型非接觸式激光回饋干涉儀,無需靶鏡,僅利用待測工件反射甚至是散射的微弱光線即可實現高精度測量,是真正意義上的非接觸式測量。 除可用于傳統激光干涉儀適用的測量目標外,還可適合于微、小、輕、薄、毒、易變形等不適合安裝靶鏡的目標測量,如液面高度、半導體晶圓位置、微機械位移、材料膨脹系數、振動等。
以下是本產品獨特的技術或特點:
1、高靈敏度,可實現對非配合目標的非接觸式測量
2、準共路技術有效抑制儀器內部環境變化引起的漂移,儀器具有較小的零漂。
3、具有較高的分辨率和較大量程,測量結果可以溯源。
LY1000激光回饋干涉儀的分辨率可達納米量級,量程可達2m,如果加擴束鏡,可達數米。它同干涉儀一樣,測量結果可以溯源到光波長,從而無需標定。
產品由激光測頭、信號處理電箱和軟件組成。
(欲了解更多信息,請閱覽本網站解決方案欄目中的:非接觸式激光干涉儀(激光回饋干涉儀) )
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